Mesureur digital d'épaisseur de revetement SAUTER TE | Balances pro

Mesureur digital d'épaisseur de revetement SAUTER TE

410,00 € Économisez 15%

348,50 € HT

348,50 € - 442,00 €

État

Neuf

Référence

TE 1250-0.1F

SAUTER TE ► Design ergonomique avec sonde externe pour un confort d'utilisation très élevé

Description complète et documents

Bloc d'étalonnage: standard pour l'ajustage et le bon positionnement de l'appareil de mesure.

Fonction de focalisation : augmente la précision de mesure d‘un appareil au sein d‘une plage de mesure donnée.

Interface de données RS-232: Pour connecter la balance à une imprimante, un PC ou un réseau.

Fonctionnement avec pile: Le type de pile est indiqué pour chaque appareil.

Expédition de colis par service de messagerie rapide. Livraison 2 jours.

Option disponible dans le panier - Logiciel: pour la transmission des données de mesure de l'appareil vers un ordinateur.

Option disponible dans le panier - Certificat ISO. La durée de la mise à disposition du certificat est de 3 jours.

Cliquez ici pour afficher la liste des combinaisons de produits.

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Caractéristiques

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Caractéristiques

TE 1250-0.1F Voir spécifications

Caractéristiques

Plage de mesure [Max] µm:

100 µm | 1250 µm

Lecture [d] µm:

0,1 µm | 1 µm

Objet de contrôle:

Revêtements sur fer et acier

Plus petite surface des échantillons convexe (rayon) mm:

1.5 mm

Plus petite surface des échantillons concave (rayon) mm:

25 mm

Plus petite surface des échantillons plane (rayon) mm:

1,5 mm

Epaisseur minimum de la base:

300 µm

Option Certificat d'étalonnage usine:

348,50 € HT 410,00 €

Prix HT

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Délai d'expédition

Action

Disponible en stock

48 - 72h

Modèle

Caractéristiques

TE 1250-0.1N Voir spécifications

Caractéristiques

Plage de mesure [Max] µm:

100 µm | 1250 µm

Lecture [d] µm:

0,1 µm | 1 µm

Objet de contrôle:

Revêtements isolants, (anodisation, peinture) sur métaux non magnétiques

Plus petite surface des échantillons convexe (rayon) mm:

3 mm

Plus petite surface des échantillons concave (rayon) mm:

50 mm

Plus petite surface des échantillons plane (rayon) mm:

5 mm

Epaisseur minimum de la base:

300 µm

Option Certificat d'étalonnage usine:

382,50 € HT 450,00 €

Prix HT

Stock

Délai d'expédition

Action

Disponible en stock

48 - 72h

Modèle

Caractéristiques

TE 1250-0.1FN Voir spécifications

Caractéristiques

Plage de mesure [Max] µm:

100 µm | 1250 µm

Lecture [d] µm:

0,1 µm | 1 µm

Objet de contrôle:

Mesureur de combinaison: F, N

Plus petite surface des échantillons convexe (rayon) mm:

3 mm

Plus petite surface des échantillons concave (rayon) mm:

50 mm

Plus petite surface des échantillons plane (rayon) mm:

5 mm

Epaisseur minimum de la base:

300 µm

Option Certificat d'étalonnage usine:

442,00 € HT 520,00 €

Prix HT

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Action

Disponible en stock

48 - 72h

Description

Sonde externe pour des accès difficiles
Interface de données RS-232, incluse
Plaque zéro et feuilles d'ajustage incluses
Livré avec sa mallette de transport
Offset-Accur: Avec cette fonction, l'instrument peut être calibré avec plus de justesse, en utilisant 2 valeurs pour la calibration. Dans ce cas la précision sera de 1 % de la valeur affichée
Unités disponibles: µm, inch (mil)
Auto-Power-Off